冷(leng)熱(re)沖(chong)擊試驗箱(xiang)執行與滿(man)足的(de)標(biao)準(zhun)

冷(leng)熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)/高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)是(shi)金(jin)屬、塑(su)料(liao)、橡膠、電子(zi)等(deng)材(cai)料行(xing)業(ye)需求(qiu)的(de)測(ce)試設(she)備(bei)，用(yong)於(yu)測(ce)試(shi)材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料，在(zai)瞬(shun)間(jian)下(xia)經(jing)*溫及(ji)極(ji)低(di)溫(wen)的(de)連(lian)續環(huan)境(jing)下(xia)忍(ren)受的(de)程(cheng)度，得(de)以在短時(shi)間(jian)內檢測試(shi)樣(yang)因(yin)熱(re)脹(zhang)冷縮所引起(qi)的(de)化學變化或物理傷(shang)害(hai)。冷熱沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱(xiang)/高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)執行與滿(man)足標(biao)準(zhun)是(shi)以下(xia)幾(ji)點(dian)：

1、GB/T2423.1-2001低(di)溫(wen)試驗(yan)方法(fa)；　　

2、GB/T2423.2-2001；　　

3、GB/T2423.22-1989溫(wen)度變(bian)化試驗N；　　

4. GJB150.3-86；　　

5. GJB150.4-86；　　

6. GJB150.5-86；　　

7、GJB150.5-86溫度沖(chong)擊(ji)試驗(yan)；　　

8、GJB360.7-87溫度沖(chong)擊(ji)試驗(yan)；　　

9、GJB367.2-87 405溫度沖(chong)擊(ji)試驗(yan)；　　

10、SJ/T10187-91Y73系列(lie)溫度變(bian)化試驗箱(xiang)；　　

11、SJ/T10186-91Y73系(xi)列(lie)溫度變(bian)化試驗箱(xiang)；　　

12、滿(man)足標(biao)準(zhun)IEC68-2-14_試(shi)驗(yan)方(fang)法N_溫度變(bian)化；　　

13、GB/T 2424.13-2002試驗方法(fa)溫(wen)度變(bian)化試驗導則(ze)；　　

14、GB/T 2423.22-2002溫度變(bian)化；　　

15、QC/T17-92汽車(che)零(ling)部(bu)件(jian)耐候(hou)性試驗壹(yi)般(ban)規則(ze)；　　

16、EIA 364-32熱沖(chong)擊（溫度循(xun)環(huan)）測試(shi)程序的(de)電連(lian)接器(qi)和插座的(de)環(huan)境(jing)影響(xiang)評估。